Résumé :

A partir d'une modélisation d'un système en terme d'automate temporisé, on propose deux approches de génération de séquences de tests, l'une basée sur le graphe de régions d'Alur et Dill, l'autre basée sur le produit synchronisé entre une spécification temporisée et un objectif de test. Cette dernière méthode a été utilisée pour générer des tests sur l'algorithme ABR de la couche AAL d'ATM.